HI4103内置参比的复合电极，固态膜由不溶于被测溶液的硫化镉/硫化银制成，传感器和溶液之间的电位随着测试溶液中的离子浓度变化而改变，在相同的离子强度条件下，电压与溶液的镉离子浓度成比例，通过测量电位的变化可以得到镉离子的浓度。

测量范围：0.1M to 1×10^-7M、11200 to 0.01 mg/L（ppm）Cd²⁺

温度范围：0 to 80 °C；最佳pH范围：2 to 12 pH；近似斜率@25?C：+27mV

单位转换【Cd²⁺】：M（mol/L）=1.124 x 10⁵mg/L（ppm）、mg/L（ppm）=8.896x 10^-6M（mol/L）

干扰物：不得存在银和汞，任何会生成比硫化镉更难溶的离子会影响测定结果，长时间浸泡在此类溶液中会损坏电极，
如：铅离子、铜离子、三价铁离子会氧化电极表面造成损坏。
会与镉离子发生络合反应的离子如溴、氯、EDTA等会使测量结果降低

适用范围：水溶液中镉离子的浓度测量，也可作为指示电极用于镉离子的EDTA滴定测量

HI4103-11固态膜镉【Cd²⁺】ISA离子标准液综合套装
该套装适合固态膜镉【Cd²⁺】ISE离子选择复合电极处理、校准、清洗保存，有效保证测量读数准确性和可靠性。
HI4000-00专用ISA离子强度调节液，规格：460mL；【测量前每100mL标液和样品加2mL】
HI4003-01专用镉【Cd²⁺】ISE标准液，标准值：0.1M，规格：460mL
HI7072定制专用电极填充液，成分：1M KNO₃，规格：30mL×4

HI4000-70定制专用离子电极打磨抛光带，规格：24个/组
电极表面发生划伤或氧化后可用抛光带擦亮电极，清除电极膜表面不均匀颗粒污染，避免电极响应缓慢、读数漂移或重复性较差现象发生。
适用于HI4102、HI4103、HI4107、HI4108、HI4109、HI4111、HI4112、HI4115离子电极膜表面维护处理

镉【Cd²⁺】ISE离子选择复合电极注意事项

? 镉有毒，避免摄入或皮肤接触，实验时采取相应的防护措施。

浓度低于10-3M（112ppm）的标液需要每天配置，标液保存在塑料瓶中。

? 校准溶液和样品溶液需要在相同的离子强度条件下测量，ISA必须同时以相同体积添加;校准溶液和样品溶液需要在相同的温度下测量。

校准溶液和样品溶液需要在相同的搅拌条件下测量，使用磁力搅拌器时，使用绝热材料避免搅拌器传热。
校准时建议从低浓度标液开始测量，带数据稳定后读数，浓度越低所需要的稳定时间越长。

?浓度大于0.10M的样品需要稀释后测量，对于高离子强度的样品可以使用标准加入法或滴定法测量。
使用硝酸和氢氧化钠调节溶液为4.5-7.5pH之间，避免生成氢氧化镉干扰测定;浸泡在＜10^-3M的标液中有利于提高电极的响应。

测量不同样品间隙用去离子水清洗电极并吸干水分，避免交叉污染，注意不要擦到电极膜；如果膜发生损坏，应及时更换，否则会影响测量结果。

当电极膜表面在测量过程中被氧化，可放在抗坏血酸等弱还原剂中浸泡几分钟。

?传感器表面发生擦伤、凹陷、氧化时会引起读数的漂移，可以使用HI4000-70对电极表面进行处理。

避免温度的剧烈变化，否则会损坏电极;温度变化可能会使电极内部产生气泡，轻轻拍打电极即可赶走膜表面的气泡。

?使用前撕掉陶瓷结点表面的封口膜，安装好电极后添加HI7072填充液，测量时将填充口打开。填充液会以缓慢的速度渗出，这是正常的，但是如果渗出速度大于4cm/24h，则需要检查电极盖是否拧紧或者电极头的锥形面有没有杂物颗粒存在造成缝隙。每天测量前检查填充液液面，低于填充口2cm以上需要添加填充液。电极内部产生结晶时需要更换新的填充液。

测量数据不稳定时，检查电极头锥形面是否有异物，需要时清洁电极内部并更换填充液。

电极斜率不符合要求时，可将电极浸泡在标准液（＜10^-3M）中一段时间可以改善。

?电极短期保存可放在稀释的标准液稀（＜10^-3M）中保存,长时间不用应拆分电极，冲洗干净，用密封膜封住陶瓷结点，给传感器加上保护盖，干燥保存。